鏡頭雜散光分析應用
豐富的鏡片材質資料庫
SPEOS提供豐富的材質資料庫，包括OHARA、HOYA……等等各式型號與廠牌，使用者也可以透過自定義的方式設定不同鏡片的材質與折射率，以達到接近實際的視覺和光學效果。OMS2的表面量測設備，也可以幫助我們量測非穿透的材質，並建立自己的材質庫
支援紅外與紫外光頻譜範圍
SPEOS可以支援及高與極低的頻譜波長，範圍甚至可達100nm-2000nm，因此除了提供使用者模擬日間與一般鏡頭的光學結果外，也可以模擬夜視儀或是紅外線感測等等的光學結果，可以應用在各式感測設備與遙控設備上。Library也提供不同波長的設定供使用者作選擇，也可以自訂合適的波長與範圍，以達到開發與檢測的目的。
Source & Sequence雜散光圖層分類功能
SPEOS可以將模擬結過分成不同的圖層，有Source和Sequence兩種。系統會根據不同接收器的設定，來將光學模擬結果進行不同圖層的分類。透過開啟／關閉圖層的管控，讓使用者過濾不必要的光線，並找到問題的原因。
Source
根據輸入的光源作圖層區分，可以將不同太陽角度的模擬結果，在同一個模擬結果下分別區分出來。
Sequence
系統自動根據輸入的階層去區分不同散光的形狀與能量強弱，將不同的光線區塊從同一個模擬結果中區分出來。
部分表面塗層功能
SPEOS可以在部分表面進行塗層設定，因此可以在同一個零件的不同表面上設定不同的表面材質，並可以分析不同的Coating的模擬結果，如抗反射層、表面塗黑、金屬電鍍等等，都可以在軟體裡面重現不同表面塗層的模擬效果。
逆追跡功能
SPEOS的逆追跡功能幫助我們找出產生雜散光的真正原因。只要從模擬結果框選雜散光位置，系統就會算光跡路線，幫助使用者找到問題的根源並修正機構來達成改善效果。
光跡匯出功能
SPEOS可以輸出逆追跡與互動光跡為Solidworks的3D草圖，可以讓沒有光學軟體的電腦也能了解問題原因，也方便與機構工程師進行光機分析與溝通。
於3D環境中顯示模擬結果
SPEOS可以將模擬結果顯示於3D環境中，可以讓使用者更直覺的了解模擬結果在環境中的相對位置，在鏡射的機構元件下輕易地分辨左右與上下。
